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GK6030-BDT半导体工艺气体检测系统
简要描述:

GK6030-BDT半导体工艺气体检测系统是一种可移动、可独立的采样系统,采用分析柜式结构,结合用户现场实际工况,采用样气抽取分析式流程设计。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新日期:2024-12-20
  • 访  问  量:724

详细介绍

GK6030-BDT半导体工艺气体检测系统,GK6030-BDT型号是一种可移动、可独立的采样系统,采用分析柜式结构,结合用户现场实际工况,采用样气抽取分析式流程设计。主要由三部份组成,氢燃料电池检测模组,进口检测模组,出口检测模组,全程高温伴热191摄氏度方式。采用西门子PLC控制,组态界面操作,具备自动进样,连续运行、间歇运行、控制联锁诸功能。加上配置了智能化分析仪表,具有自动化程度高,数据处理快速准确。测量精度高,响应时间快,其测量后的气体浓度信号可在计算机组态界面监控。主要用于半导体工艺用电子特气的质量评价,半导体工艺废气、氢燃料电池燃烧气、烟气和发动机尾气等成分的定性分析和定量研究,也可用于半导体工艺废气处理设备分解移除效率的评价和研究

GK6030-BDT半导体工艺气体检测系统特点:

●1秒1次分析,准确记录瞬时数据

●样气处理系统---对分析样气的净化、干燥、流量控制等处理,确保分析仪器的使用寿命及分析精度。

●多重过滤---可靠的分离气体中所含的杂质,尤其是极细的固体颗粒。过滤器芯的使用情况可通过日常维护检查,且更换滤芯方便。

●实时数据监控,易于操作

 

应用实例

•半导体工艺用电子特气的质量评价测量

•与安全相关领域的测量

•作为法定烟气排放量参考变量的测量

•氢燃料电池燃烧气成分定性分析

•燃烧厂中烟气排放量的定性分析

•半导体工艺废气气浓度的定量研究

 

主要参数

•系统过滤精度:≤0.1um

•系统响应时间:T90≤2-3秒(取样管定长为5m)

•范围浓度从10ppb到100

•光谱范围6000~500 cm-1

•光谱分辨率0.5-128cm-1

•扫描速度在0.5cm-1分辨率下可达1次/秒

•扫描频率1HZ

•仪器测量精度2%读数

•采样温度样品池控温范围:室温~200℃可控

•检测器液氮冷却MCT

•气体池参数容积200ML,光程5.11米

•系统数据输出协议:MODUBUS RTU

•系统电源电压:220VAC

•采样流速范围:(0.2~10)L/min

•采样压力范围:(0.01~4)bar

•测试范围:浓度从ppb到100级别的复杂气体成分

•校准方法:无需标准气体校准,仪器具备自我诊断功能,直接进样测出各种气

体组分测量线性范围,不少于300种气体组分测量模型,可同时分析30种以上气体组分

•扩展检测组分:软件提供浓度范围扩展,气体种类扩展功能,可提供不少于300种气体检测能力

•可测试水分含量可达到40%的混合气

•数据处理系统:电脑及打印机1套,2K触控全面屏,16G内存,1T硬盘,14英寸显示器,双面激光打印机一台

•高温预处理系统:包含高温泵、过滤器系统、触摸屏、PLC控制软件、控制软件系统、相关管阀件和流量计

•配套全流程一体化高温加热管线

•故障报警:系统部分故障自诊断功能

•分析柜尺寸:H×D×W(mm)1850×900×600

•分析柜重量:约150kg


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